Aktív félvezető alkatrészek hibáinak elemzése

OData támogatás
Konzulens:
Dr. Németh Pál
Elektronikai Technológia Tanszék

A diploma dolgozat a Continental Automotive Hungary budapesti telephelyén (továbbiakban: CAH) előforduló elektromos alkatrészek hibáival foglalkozik. Fő témája a hibák elemzése, kifejezetten az aktív félvezetőkre vonatkozóan. Az EOS/ESD (Electrical Over Stress/ Electrostatistic Discharge) körülbelül 30%-át teszi ki az aktív félvezetőknél észlelt hibáknak, ezért különösen fontos a hibák felderítése még a gyári folyamatokon belül, a hibaok feltárása, és minél korábbi kiküszöbölése. A hibajelenségek minél későbbi észrevétele nemcsak gyártásminőségi problémát okoz (a vevőhöz is juthatnak ki hibás egységek), hanem mennyiségi problémát is, hiszen további tesztlépésekre van szükség a hibák kiküszöbölésére, ami a kiszállítások leállítását, illetve visszahívásokat eredményezhet.

A diplomadolgozat 3 esettanulmányt mutat be.

1. Tanulmányoztam egy régebbi esettanulmányt

2. Második esettanulmánynál Beszállító Fejlesztői (Supplier Quality Management) oldalról részt vettem a probléma megoldásában.

3. A harmadik esetben nemcsak SQM oldalról, ahol az aktív félvezető alkatrésszel volt középpontban, hanem folyamatmérnöki oldalról is részt vettem a munkában. Itt nyomtatott áramköri oldalról és forrasztásminőségi szempontból is meg lett vizsgálva a probléma.

Amennyiben az ilyen hibákat nem előzzük meg, akkor a hiba kritikussági szintjétől függően vevői elégedetlenséghez, gyártásleálláshoz (mennyiségi probléma) vagy esetleges visszahíváshoz vezethet.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.