Analóg-digitális átalakítók Matlab alapú tesztje szinuszos mérőjellel

OData támogatás
Konzulens:
Dr. Kollár István
Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék

Dolgozatom az analóg-digitális átalakítók tesztelésére használt eljárásokkal foglalkozik. Áttekinti

az átalakítók nemideális tulajdonságait, lehetséges hibáit. Számba veszi az elterjedt

tesztelési módszereket, különös figyelmet szentelve az A/D-átalakítókról szóló IEEE-1241

szabványban rögzített eljárásnak. Bemutatja a Méréstechnika és Információs Rendszerek

Tanszéken fejlesztett ADCTest toolbox-ot, dokumentálja a programon általam végrehajtott

fejlesztéseket. Hatékony eljárást ad az A/D-átalakító komparálási szintjeinek becslésére,

illetve a komparálási szintek alapján az effektív bitszám meghatározására. A becslők

jóságát szimulációk segítségével vizsgálja, valamint diszkutálja ezek kezdeti értékként

történő felhasználhatóságát az A/D-átalakító paramétereinek maximum likelihood becslését

megvalósító eljárás során. A javasolt algoritmust összehasonlítja a mérési eredmények

IEEE-1241 szabvány szerinti kiértékelésével. Az összehasonlítást ugyanazon szimulált mérési

eredmények különböző módon történő kiértékelésével, az így kapott eredmények vizsgálatával

végzi.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.