Az áram hatása a forraszötvözetekből képződő ón whiskerekre

OData támogatás
Konzulens:
Dr. Illés Balázs György
Elektronikai Technológia Tanszék

Az ólom tartalmú forraszok betiltása Japánban és az Európai Unióban, a tiszta ón, illetve a különböző ón ötvözet forraszok alkalmazásának elterjedéséhez vezetett az elektronikai gyártás területén mind a felületszerelt alkatrészek (ellenállások, kondenzátorok, más passzív elemek és integrált áramkörök), mind pedig a furatszerelt áramkörök és nagyobb alkatrészek beültetése esetén. Ezen kívül az alkatrészek lábai és egyéb kontaktusfelületek is gyakran kapnak ón bevonatot. Ezekből az ón felületekből néhány mikron vastagságú, egy- vagy többkristályos képződmények nőnek ki, amelyeket whiskereknek nevezünk. A whiskerek jelentős megbízhatósági problémát jelentenek a nagy integráltsági fokú elektronikák számára. Az irodalomkutatás folyamán ezen whiskerek által okozott hibajelenségek előfordulását és az általuk okozott problémák jelentőségét vizsgálom, valamint növekedésük okaira keresem a választ. Szakdolgozatomban különösen nagy hangsúlyt fektetek az árammal átjárt vezetők vizsgálatára, melyre saját kísérletet és tesztet is kidolgoztam. Ennek folyamán 3000 órán keresztül magas hőmérsékletű és páratartalmú kamrában voltak elhelyezve a tesztpanelek és különböző áramerősségek alkalmazása mellett lettek vizsgálva. Ezen témakör azért érdemel a későbbiekben nagy figyelmet, mert a forrasztott kötéseken az esetek túlnyomó többségében áram folyik.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.