DDR memóriák vizsgálata

OData támogatás
Konzulens:
Lazányi János Gyula
Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék

Az előzetes irodalomkutatás alapján kiderült, hogy a DDR3 memória öregedése úgy becsülhető, hogy módosított frissítési periódus mellett vizsgáljuk a memóriába írt adatok helyességét.

A JEDEC szabvány szerint egy DDR3-as memóriacella 64 milliszekundumonként frissül, amely túl rövid idő ahhoz, hogy felfedje a gyenge cellák hibáit. A frissítések közötti idő növelésével azonban láthatóvá válnak azok a gyenge cellák, amelyek a többi cellától eltérően már elvesztik tartalmukat.

A DDR3 memóriák öregedésvizsgálatának az a célja, hogy az öregedés mértékének mérésével jobb becslések készüljenek a memóriamodulok élettartamára.

Ezért egy Xilinx Virtex6-os FPGA alapú kártyán egy olyan tesztrendszert alakítottam ki, amellyel mérhető a memóriamodulok öregedése. A Xilinx MPMC memóriavezérlőjének módosításával sikerült elérni, hogy a frissítést tetszőlegesen változtatni lehessen.

Az öregedés vizsgálata során háromféle mérést végeztem. Meghatározott, de megnövelt frissítési idő (tipikusan 10s) mellett mérem meg a memóriahibák számát:

• szobahőmérsékleten működtetett

• emelt hőmérsékleten (40°C - 80°C) működtetett

• szobahőmérsékleten működtetett, de korábban hőstressznek kitett modulok esetében. A hőstressznek kitett (mesterségesen öregített) moduloknak

hasonló tulajdonságaik vannak, mint a sokévnyi használat után elöregedett moduloknak.

A kutatás végső célja, hogy egy olyan eljárást dolgozzunk ki, amellyel becsülhető a DDR3-as memóriák élettartama a gyártási végellenőrzés során.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.