DDR3 memóriatesztelés AXI platformon

OData támogatás
Konzulens:
Lazányi János Gyula
Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék

A dinamikus memóriák esetén az egyetlen szempont, hogy az eszköz képes legyen helyesen tárolni az adatokat. Szabvány szerint ma egy normál hőmérsékleten működő dinamikus memóriát 64 milisecundumonként frissíteni kell az eszköz megfelelő működése érdekében. Ha ez a művelet nem történik meg a szabvány által előírt időn belül, akkor a memória egyes celláiból elveszik az információ, ami viszont a rendszer helytelen működéshez vezethet.

A memóriát felépítő elemi cellák adatmegtartó képessége eltérő, vannak gyengébb cellák, amelyek idővel, az eszköz használata során elhasználódnak, elöregednek, hamarabb meghibásodnak, mint a többi cella és nem képesek helyesen tárolni a memóriába írt adatokat. A már említett szabvány szerinti frissítési időt is a „gyenge” cellák tulajdonságai alapján határozták meg.

Ahhoz, hogy felderítsük a cellák memóriabeli helyét - anélkül hogy megvárnánk, hogy a több éven át tartó használat során a gyengébb cellák felfedjék hibáikat - a frissítési időt kell a szabványtól eltérő értékre módosítanunk. Ezzel a tesztelési eljárással információt kapunk arról, hogy melyek azok a cellák, amelyeknél nagyobb a memóriahiba kialakulás valószínűsége, hogy az eszköz elhasználódása következtében, mely cellák tökéletlensége miatt alakul ki helytelen működés.

A memóriák öregedésével kapcsolatosan a Méréstechnikai és Információs Rendszerek Tanszék kifejlesztett egy tesztrendszert, időközben azonban felmerült néhány módosítási lehetőség ezen rendszer továbbfejlesztésével kapcsolatban. A szakdolgozatomban ezzel a rendszerrel foglalkozom részletesen és ismertetem az elvégzett munka lépéseinek folyamatát és a felmerülő problémákat.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.