Forrasztott kötések intermetallikus mikroszerkezetének vizsgálata elektrokémiai módszerekkel

OData támogatás
Konzulens:
Dr. Bonyár Attila
Elektronikai Technológia Tanszék

Kivonat

A Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Elektronikai Technológia Tanszékén kifejlesztettek egy ólommentes forrasz mikroszerkezet vizsgálati eljárást. A módszer során szelektív elektrokémiai maratással eltávolítják az ón fázist a forrasztott kötésből. Feladatom volt megvizsgálni egy elektrokémiai módszert, amit Elektrokémiai Impedacia Spektroszkópiás eljárásnak hívnak (EIS), hogy elkelmazható-e, az elektrokémiai maratásnak alávetett forrasztott kötések kvantitatív vizsgálatához. Ennek érdekében szisztematikusan megterveztem és végrehajtottam méréseket, amiknek a célja az volt, hogy optimalizálni lehessen az EIS módszert forraszvizsgálati alkalmazásokhoz. Számos elektrolit és mérési paramétert teszteltem a különböző módszerekkel létrehozott forrasztott kötéseken. Az eredmények alapján azt a következtetést vontam le, hogy az EIS módszert sikeresen lehetne hasznosítani a különböző mikroszerkezettel rendelkező forraszok karakterizálásához. Munkámban részletesen bemutatom a lehetséges összefüggéseket a forrasztott kötések szerkezete és az EIS által szolgáltatott spektrum görbék alakja között.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.