Master JTAG vezérlő logika fejlesztése

OData támogatás
Konzulens:
Dr. Fehér Béla
Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék

A digitális áramkörök rohamos fejlődése magával vonta az egyre nagyobb bonyolultságú és komplexitású integrált áramkörök kialakulását, amelyeknek tesztelése, a gyártás után egyre nehezebbé vált. A technika nagyléptékű fejlődésesével az elavult módszereket kiváltó új megoldásokra volt szükség.

Az áramkörök tesztelése mindig is a gyártás alapvető része volt, így nem meglepő, hogy az áramkörök tesztelhetőségre tervezése napjainkra meghatározó irányelv lett a gyártók körében. Az áramkörök tesztelésének problémájára az egyik megoldást a peremtesztelés (Boundary Scan) megszületése jelentette, amely mára az IC tervezők és gyártók körében a legelterjedtebben alkalmazott módszerré fejlődött. Tesztelésre, hibakeresésre és programozásra egyaránt használják.

Dolgozatom első felében ismertetésre kerül az IEEE 1149.1 szabvány és az erre épülő, teszteléshez kapcsolódó kiterjesztése, az SVF formátum. A későbbiekben bemutatom a hardverleíró nyelven elkészített MJTAG vezérlő logikát és a hozzá kapcsolódó szoftvert, amelynek segítségével alapvető tesztelési és hibakeresési feladatokat hajthatunk végre a tesztelendő eszközökön.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.