Moduláris tesztrendszer kialakítása

OData támogatás
Konzulens:
Szántó Péter
Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék

A Microchip Technology Hungary Kft. fő fejlesztési területe a rádiófrekvenciás integrált áramkörök, illetve az ezekhez kapcsolódó alkalmazások tervezése. Az iparág természetéből adódóan folyamatos fejlesztés folyik ezen a területen. Az integrált áramkörök legyártása költséges folyamat, ezért kulcsfontosságú szerepet kap a tesztelés.

Jelenleg főként számítógépes szimulációk segítségével vizsgálják az áramkörök verilog nyelven készült modelljeit. Ezek a szimulációk egy komplex áramkör esetében jelentős időt és erőforrást vesznek igénybe. Létezik ugyan egy FPGA alapú tesztrendszer, melyben legyártás előtt lehetőség nyílik az áramkörök tesztelésére, azonban ez egy nagy bonyolultságú rendszer, melyen bizonyos részegységek használata jelentős jogdíjhoz van kötve.

A fentiek alapján felmerült az igény egy nyílt forráskódú keretrendszerre, amelybe a tesztelni kívánt verilog modulok egyszerűen integrálhatóak. Mindezek mellett fontos szempont, hogy az esetleges mikrovezérlőre írt driverek is a szilícium legyártása előtt már fejleszthetők legyenek.

A cég jelenleg nem tud erre a kutatási irányra erőforrást felszabadítani, ezért ezt választottam diplomamunkám témájának.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.