Tesztlefedettség mérés mikrokontrolleren

OData támogatás
Konzulens:
Dr. Kovácsházy Tamás
Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék

Egy termék fejlesztése során elengedhetetlen a folyamatos tesztelés a kezdetektől fogva. Szoftverfejlesztés esetében is az elkészült alapegységektől fogva érdemes teszteknek alávetni a megírt kódokat. Ilyen esetekben alkalmazzuk a strukturális tesztelést, amely a program futását vizsgálja, ahol a tapasztalatok alapján leggyakrabban fordulnak elő hibák. A tesztlefedettség méréssel azt tudjuk vizsgálni, hogy egy adott teszteset lefutása alatt a kód mely részein haladt végig.

A tesztelést el lehet végezni számítógépen. Ennek előnye a bőséges erőforrások rendelkezésre állása, ennek következtében gyorsabb tesztelést tesz lehetővé, ugyanakkor a targeten tesztelés is igen fontos, hiszen csak ekkor bizonyosodhatunk meg róla, hogy az adott mikrokontrolleren is ugyanúgy működik a fejlesztett kód.

Az én feladatom az volt, hogy a meglévő, mikrokontrollerekhez készült tesztkörnyezetet felkészítsem arra, hogy a SquishCoco nevű program segítségével tesztlefedettséget tudjak mérni. A meglévő tesztkörnyezet képes volt a tesztfájlok letöltésére futtatására és amennyiben a tesztelt kódhoz a hozzá voltak adva megfelelő függvények, és a megfelelő paraméterekkel hívtuk meg képes volt a hibákat visszajelezni. Nekem a fordítás előtti automatikus instrumentálást, a teszt lefutása után a teszteredmény egy részletben történő visszaküldést és a visszaküldött teszteredményekből ki kellett nyernem és megfelelő formátumúvá alakítanom a HTML jelentés elkészítéséhez.

A teszteléshez kaptam egy Infineon AURIX TC26xB mikrokontrollert magába foglaló fejlesztőkártyát. Ennek használatához némiképp ki kellett bővíteni a tesztkörnyezetet.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.