Tesztlefedettséget növelő eljárás kutatás és fejlesztés

OData támogatás
Konzulens:
Dr. Fehér Béla
Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék

Az elektronikus eszközök tesztelése egyre növekvő kihívást jelent napjainkban, figyelembe véve az elemek miniatürizálását, ami maga után vonja a nyomtatott áramköri lapok és az alkatrészek méretcsökkenését egyre több nehézséghez vezetve, amikor a tesztlefedettség növelése elvárás a termelés lehető legkorábbi fázisában, annak érdekében, hogy a költségcsökkentés fenntartható legyen a bevétel növekedése céljából egy vállalatnál, ahol embertömegek dolgoznak, így a gazdaság működésben maradjon.

A feladat célja egy jelenleg használt ICT interfész nélkülözhetetlen funkcióinak átültetése egy programba szem előtt tartva a továbbfejlesztési és bővítési lehetőségeket.

A feladat lefedi a boundary scan leíró nyelv, a kapcsolódó IEEE 1149.1 és IEEE 1149.6 szabványok, az in-circuit teszt fejlesztő környezet, a Teradyne TestStation szoftverek és megoldások megismerését. A feladat tartalmazza az alkalmazás megvalósítását – beleértve a korlátozásokat is – a National Instruments által biztosított LabVIEW grafikus fejlesztői környezetben a mérnökök támogatásának érdekében, hogy felismerhessék és kezelhessék a tesztlefedettséget növelő eseteket a napjainkban használt szabványokkal kapcsolatban. A feladat magában foglalja a program tesztelését és a kód dokumentálását is, megjelölve a továbbfejlesztési lehetőségeket.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.