Tomográfiás mélységi és fluoresszenciás felszíni képalkotás röntgensugárzással - a képalkotási minőség elemzése

OData támogatás
Konzulens:
Dr. Szlávecz Ákos
Irányítástechnika és Informatika Tanszék

A Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Nukleáris Technikai Intézetében rendelkezésre álló röntgenforrás, valamint planáris és spektrális detektorok röntgen-fluoreszcenciás, planáris és CT felvételek elvégzését teszik lehetővé.

Diplomamunkám két részre osztható. Elsőként az XRF analízis alkalmazhatóságát vizsgáltam az anyagösszetételre vonatkozó mélységi információk kinyerésére, melyek ezután a képrekonstrukciós eljárás fejlesztésére használhatók. Egy festményvizsgálattal foglalkozó céggel együttműködve összevetettük saját berendezésünk teljesítményét egy gyárilag kalibrált XRF készülékével. A kísérlet keretében többrétegű festmény fémtartalmát határoztuk meg, vizsgálva, hogy az alsóbb réteg alakzatai mennyire azonosíthatók.

A dolgozat második felében bemutatom az általam fejlesztett programot, mely CT készülékek felbontásának gyors és automatizált meghatározását teszi lehetővé. A programot mesterséges ábrákon teszteltem, majd meghatároztam az általunk használt CT készülék felbontását, annak érdekében, hogy a felületi elemösszetétel rekonstrukcióra gyakorolt esetleges hatását ki tudjuk mutatni.

Letölthető fájlok

A témához tartozó fájlokat csak bejelentkezett felhasználók tölthetik le.